集成电路IC具有静电放电保护专利发行

     静电放电（ESD）是一种被设计者公认的集成电路和其他电子设备面临的问题，例如，在ESD事件期间，的放电电流流动到一个集成电路或其它电子设备可能会导致在一个或多个电气元件的移动设备（例如，晶体管，二极管，或类似情况）超过其相应的电气元件的击穿电压，可能会损坏这些电器元件和损害操作的设备，或以其他方式使装置无法工作，因此希望提供集成电路IC具有从电气元件的两端保护电压过高的电子设备，在ESD事件期间。

    提供的装置用于集成电路IC的一个示例性的集成电路包括一个输入/输出端的第一晶体管，连接到输入/输出端子，第二晶体管耦合到所述第一晶体管的控制端子和基准电压节点，和检测电路，耦合到所述第二晶体管的控制端子，以打开所述第二晶体管的放电事件。在另一个实施例中，一个集成电路IC包括一个输入端，第一晶体管具有耦合到输入端和耦合到一个参考电压节点的源极端子的栅极端子，第二晶体管具有耦合到所述第一晶体管的栅极端子的漏极端子和源极端子耦合到所述基准电压节点和检测电路，其耦合到所述第二晶体管的栅极端子响应于所述第二晶体管的放电事件打开 。在又一实施例中，集成电路包括一个输出端，第一晶体管具有耦合到输出端耦合到第一基准电压节点，第二晶体管的源极端子耦合到第二参考电压节点和一个耦合到所述第一晶体管的栅极端子与漏极端子和源极端子的漏极端子，和检测电路，耦合到所述第二晶体管的栅极端子，以打开所述第二晶体管施加电压基本上等于第二参考电压节点放电事件响应所述第一晶体管的栅极端子的电压。